菲希爾XULM240 X射線測(cè)厚儀

Fischer xulm 240 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀的比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。如同所有的Fischerscope x-ray儀器一樣，本款儀器有著出色的精-確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性，這樣顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需要的時(shí)間和精力。依靠菲希爾Fischer公司的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固態(tài)和液態(tài)的成分以及測(cè)量樣品的鍍層厚度。Fischer xulm 240x射線鍍層測(cè)厚儀配備了微聚焦x射線管以及可電動(dòng)切換的視準(zhǔn)器和基本濾片，因此更適合對(duì)微小型工件進(jìn)行測(cè)量。

X射線鍍層測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240基本技術(shù)規(guī)格：

1、單性金屬鍍層厚度測(cè)量。

2、合金鍍層厚度測(cè)量。

3、雙鍍層厚度測(cè)量。

4、雙鍍層(其中一層是合金)厚度測(cè)量。

5、三鍍層厚度測(cè)量。

6、測(cè)量小區(qū)域：測(cè)量點(diǎn)大小約0.09x0.09 mm。

6、測(cè)量厚度精度：當(dāng)Au厚度大于0.1μm時(shí)，有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)情況下<±5%,無標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)情況下<±10%。

測(cè)量厚度精度=(測(cè)試10次的平均值-真值)÷真值×(真值為校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片證書顯示值，測(cè)試點(diǎn)為同一點(diǎn))

儀器波動(dòng)率：COV<5% 。

COV=(S/10次平均值)×(其中S為標(biāo)準(zhǔn)偏差)