FISCHER代理X射線測(cè)厚儀XDV-SDD信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD 菲希爾 X 射線測(cè)厚儀，作為一款功能強(qiáng)大的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，在超薄鍍層厚度測(cè)量與痕量分析領(lǐng)域表現(xiàn)好，應(yīng)用場(chǎng)景極為廣泛。

該儀器采用臺(tái)式設(shè)計(jì)，擁有友好操作界面，配備高精度、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)與馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸升降臺(tái)。當(dāng)防護(hù)測(cè)量門(mén)開(kāi)啟時(shí)，樣品臺(tái)會(huì)自動(dòng)移出，方便放置樣品；設(shè)備內(nèi)置的激光點(diǎn)功能，可快速精準(zhǔn)定位測(cè)量點(diǎn)；而集成圖像放大與十字線功能的視頻系統(tǒng)，不僅簡(jiǎn)化了樣品放置流程，還能對(duì)測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行細(xì)微調(diào)整，確保測(cè)量的準(zhǔn)確性。

在數(shù)據(jù)處理與操作控制方面，WinFTM® 軟件發(fā)揮著關(guān)鍵作用。它功能強(qiáng)大且界面簡(jiǎn)潔，用戶(hù)通過(guò)電腦即可完成儀器的所有操作，包括測(cè)量數(shù)據(jù)計(jì)算與報(bào)表生成，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的清晰呈現(xiàn)與高效管理，讓 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析工作更加智能、便捷。