FISCHERSCOPE X-RAY XAN215測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述：

FISCHERSCOPE X-RAY XAN215測(cè)厚儀，先進(jìn)的Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。

更新時(shí)間：2024-02-26

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廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商

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品牌	Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類(lèi)別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥,綜合

FISCHERSCOPE X-RAY XAN215測(cè)厚儀

德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門(mén)級(jí)X射線(xiàn)熒光材料分析產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾X射線(xiàn)測(cè)厚儀是一款頗具性?xún)r(jià)比的入門(mén)級(jí)能量色散型X射線(xiàn)熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢(qián)幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。

它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時(shí)可同時(shí)測(cè)定24種元素。

正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

先進(jìn)的Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。

菲希爾X射線(xiàn)測(cè)厚儀

德國(guó)FISCHER X-RAY XAN215入門(mén)級(jí)X射線(xiàn)熒光材料分析產(chǎn)品應(yīng)用：

菲希爾X射線(xiàn)測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：