Fischer X射線測厚儀菲希爾代理

Fischerscope X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀是一款可移動使用并且應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，它特別適用于鍍層厚度的無損測量及材料分析。適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控。

菲希爾X射線測厚儀典型的應用領域有：

測量大型工件的鍍層，如：機械零件和外殼

在電鍍過程中進行移動實時測量

對合金材料進行移動實時檢測

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力。

菲希爾X射線測厚儀XAN500采用先進的硅漂移探測器能夠達到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

菲希爾X射線測厚儀使用XAN500型手持式儀器可以對大型工件以及臺式儀器難以測量的位置進行便捷快速的測量。設計結構的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結果的再現性。同時，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺式測量設備，以便檢測小型樣品。