SURTRONIC S116泰勒粗糙度儀

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116無錫駿展儀器供應(yīng)測試參數(shù)：

三個取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

二個濾波器：2CR、Gaussian

評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選

大行程：17.5mm

測試速度：

測試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

測試參數(shù)：

執(zhí)行標準：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO標準可以測量12個參數(shù)： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME標準可以測量11個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS標準可以測量14個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

測試單位：um/uin

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116無錫駿展儀器供應(yīng)可選附件

測試平臺：

00級大理石平板：400X250X70mm

有效高度：280mm。

可調(diào)Y軸V型鐵

可調(diào)范圍：±5mm

V型鐵長度100mm

SURTRONIC S116比SURTRONIC 25泰勒霍普森粗糙度儀無錫駿展儀器有如下改進：

1、電池由堿性9V改為鋰電充電電池；

2、顯示屏為觸摸屏；

3、可以顯示測試圖形；

4、SURTRONIC 25只能測試10個參數(shù)，S116在不同標準下可以測量12、11、14個參數(shù)（見技術(shù)參數(shù)）；

5、原來SURTRONIC 25使用電位器校準測試結(jié)果，現(xiàn)在改為自動軟件校準。方便使用；

6、顯示屏顯示的結(jié)果（數(shù)據(jù)和圖形）可以旋轉(zhuǎn)，可以方便的從四個方向觀察測試結(jié)果；

7、儀器底部為V形，測試軸類部件方便可靠；

8、測試數(shù)據(jù)存儲增加了存儲圖形功能；

9、可以使用U盤直接存儲，一個4G容量U盤可存儲3.9萬個圖形，數(shù)據(jù)可以存儲70批次，每批次為10萬個測試數(shù)據(jù)。