菲希爾庫倫法測厚儀Fischer

COULOSCOPE CMS2 STEP：

除了與COULOSCOPE CMS2相對應的涂層厚度測量外，COULOSCOPE CMS2 STEP還提供符合ASTM B764 - 04和DIN EN 16866的STEP測試功能.COULOSCOPE CMS2 STEP非常適合測量單個涂層厚度和 多種鎳涂層的潛在差異以簡單的標準符合方式。

COULOSCOPE CMS2儀器可測量金屬或非金屬基材上幾乎任何金屬涂層的厚度。

儀器功能

•單涂層和多涂層系統(tǒng)的測量

•圖形顯示，可清晰地顯示測量值，設定的涂層系統(tǒng)以及作為去鍍速率和測試區(qū)域尺寸的參數(shù)

•液晶顯示屏上的電池電壓圖形顯示

•適用于大多數(shù)金屬涂層的許多預定義測量應用

•可選測量單位：μm或密耳

•歐洲，南美和亞洲展示語言

COULOSCOPE CMS2 STEP

•與COULOSCOPE CMS2附錄中描述的相同功能用于STEP測量測量

•可調節(jié)的除鍍電流

•使用光標確定涂層厚度和潛在差異

•自動測量序列，用于調節(jié)銀參比電極（產生所需的AgCl涂層）

STEP測試（同時厚度和電化學勢測定），ASTM B764，DIN EN 16866