泰勒霍普森、粗糙度儀、SURTRONIC DUO信息

DUO 具有紅外接口可在距離被測物 1 米處進行測量。

SURTRONIC DUO新型粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，其設(shè)計可滿足不同的技術(shù)與工作環(huán)境要求。

SURTRONIC DUO新型粗糙度儀快速測量 在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可

攜帶方便 DUO粗糙度儀 可應(yīng)用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。

經(jīng)外接口 操作者可在距離被測工件 1m 處操作測量。

校準方便 DUO 粗糙度儀具有自身校準標準，可預(yù)設(shè)標準值，通過 LCD 顯示出來。

測針保護 不用時，設(shè)“ park "位置可全面保護測針。

人體工程學設(shè)計

泰勒霍普森粗糙度儀DUO新型粗糙度儀量 程： 200um

行 程： 5mm

取樣長度： 0.8mm+/-15%

參 數(shù)： Ra ： 0.1um-40um Ra ： 0.1um-199um

精 度： Ra:0.1um Rz:0.1um

尺 寸： 125*80*38mm

檢測方式： 壓電式

DUO新型粗糙度儀重 量： 200g